電工電子產(chǎn)品
環(huán)境試驗的目的源于工業(yè)產(chǎn)品價值的評價,不只是機能與性能優(yōu)秀與否,還要從其他各種不同的觀念作綜合評價而決定,也就是在實踐運用的嚴苛條件下,機能與性能能夠確保到什么水平,而且能夠維持到多久,假如改換零部件或進行修理時,其難易程度,這些問題對決定優(yōu)劣占了很大的比例,而且這個比例是靈活變動的。例如,以往軍用機器不計本錢,以制造優(yōu)秀的機器為優(yōu)先,如今有了改動,成本的評價基準和普通工業(yè)制品一樣,已經(jīng)朝這個方向開展了。隨著貿(mào)易全球化,運輸、運用條件也愈加多樣化。這樣一來,對產(chǎn)品的要求條件也越來越嚴苛,可以處理這些問題的廠家才是成功者,能夠生存下去,因而對所要求的條件下如何進步質(zhì)量、性能、信任度、低成本,成為廠家重要的課題這些并不是一朝一夕能夠辦到的事情,必需將用戶的需求恰當?shù)乃妓髦贫ǔ錾唐贩桨福軐⑺圃斐鰜淼闹圃旒夹g(shù)、能將運用資料作出或維持的資料技術(shù),并將這些妥善運用的管理、分析技術(shù)等等,將這些集成之后才干完成出來。
環(huán)測作為工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用于電工電子產(chǎn)品可靠性試驗的目的通常如下:
一是在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性到達預(yù)定指標的狀況;
二是消費階段為監(jiān)控消費過程提供信息;
三是對定型產(chǎn)品進行可靠性審定或驗收;
四是暴露和分析產(chǎn)品在各種環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理;
五是為改良產(chǎn)品可靠性,制訂和改善可靠性試驗方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。